神秘的X射线平板探测器

文章出处：苏州华浦检测有限公司公司网址：www.huapux.com发表时间：2023-04-04

近几年，我国经济飞速发展，各方面均由长足进步，工业品检测设备的发展也有了较大的进步，比如现在大多数的胶片拍片法和增强器拍片都升级成了平板探测器为核心部件的数字成像方法，那么平板探测器到底是什么呢？我们来了解一下神秘的平板探测器。
平板探测器(FPDs)是最常见的直接数字探测器。它们分为两大类: 1.间接FPDs。非晶硅(a-Si)是最常见的商用平板探测器材料。将非晶硅探测器与探测器外层由碘化铯(CsI)或氧化钆(Gd2O2S)制成的闪烁体结合在一起,将X射线转化为光。由于这种转换,非晶硅探测器被认为是一种间接成像设备。原理是利用半导体材料的特性，在其内部形成PN结，当外界辐射射线与半导体材料相互作用时，在PN结中产生电离子对，电离子对经过扩散，在PN结中形成一定的电荷云，这个电荷云的分布与射线入射位置有关。然后利用电极对电荷云进行感应测量，就可以确定射线入射位置。因为这种测量方法稳定可靠，误差小，所以平板探测器广泛应用于核探测、粒子探测、X射线检测等领域。
平板探测器搭配X射线源，结合图像处理系统，便组成了X射线数字成像检测系统，再根据需要设计合适的机械工装，配上探伤房或者铅房，便是一套完善的系统，通电、接地便可以工作，用来检测各种金属铸件、焊缝等内部的气泡、夹杂、裂纹等缺陷。

X射线全自动铝铸件DR检测系统（道青）

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